廠家——4500H型X射線熒光光譜儀

產(chǎn)品介紹

X射線熒光光譜儀用于各種金屬材料中各種化學元素的成分分析。用于原材料檢驗，冶煉生產(chǎn)過程成分控制，成品元素成分定值及其它特殊應用,以檢測銅合金、不銹鋼、耐熱鋼、爐渣、燒結(jié)礦等產(chǎn)品的元素含量，控制產(chǎn)品中的各成分含量，從而在滿足客戶的技術(shù)要求下控制產(chǎn)品的含量以降低生產(chǎn)成本。

技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品型號：EDX 4500H

產(chǎn)品名稱：X射線熒光光譜儀

測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）

元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）

同時分析元素：一次性可測幾十種元素

測量時間：30秒-200秒

輸入電壓：AC 110V/220V

環(huán)境溫度：15℃-30℃

環(huán)境濕度：35%-70%

探測器能量分辨率為：145±5eV

管壓：5KV-50KV

管流：50μA-1000μA

測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體

樣品腔體積：320mm×100mm

外形尺寸：660mm×510mm×350mm

重量：65Kg

工作原理

利用低能量X射線照射測試樣品，試樣中的一些原子將發(fā)射具用自身特征X射線熒光，從而識別這些元素，同時無損檢測其含量。

技術(shù)優(yōu)勢

天瑞儀器4500H X射線熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。

新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測試更快，計數(shù)率達到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好

SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比

該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關(guān)注的元素進行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。的分析性能、極短的分析時間、極低的運行維護成本、智能化的操作模式，使樣品分析簡單易行。

應用領(lǐng)域

可以廣泛適用于銅合金、鋁合金、爐渣、燒結(jié)礦、鋅合金、鎳合金、鈦合金、鈷合金、不銹鋼等金屬樣品的成分分析。

天瑞儀器4500H X射線熒光光譜儀是當今金屬分析的選擇，同時可以輕松面對未來分析的更高要求，不添加任何硬件設(shè)施，即可升級分析功能，方便靈活地隨生產(chǎn)發(fā)展的需要增加分析的元素及合金種類。

廠家介紹

江蘇天瑞儀器股份有限公司是國內(nèi)早研發(fā)生產(chǎn)X射線熒光光譜儀的廠家，目前國內(nèi)的X射線熒光光譜儀企業(yè)，分析儀器上市公司，產(chǎn)品質(zhì)量和售后服務在行業(yè)內(nèi)。